KM1-DIT-6H1 雙色紅外測(cè)溫儀

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：通用實(shí)驗(yàn)儀器

更新時(shí)間：2025-10-25

簡(jiǎn)要描述：雙色紅外測(cè)溫儀
型號(hào):KM1-DIT-6H1
可用現(xiàn)場(chǎng)有煙霧、顆粒物、蒸汽、視場(chǎng)部分遮 擋，以及高速移動(dòng)目標(biāo)物體的溫度測(cè)量 溫度測(cè)量范圍600 3000 - ℃


響應(yīng)速度小于10ms
30 DIT DIKAI V2 6
單色，雙色測(cè)量模式供選擇 同時(shí)模擬和數(shù)字輸出 可編程繼電器輸出 支持多達(dá) 臺(tái) 系列測(cè)溫儀的多點(diǎn)網(wǎng)絡(luò) . 數(shù)據(jù)采集軟件及現(xiàn)

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比色測(cè)溫儀： 采用雙色測(cè)溫方法，即通過(guò)目標(biāo) 物體輻射的兩個(gè)紅外波段的能量比值來(lái)確定被測(cè)物體的 溫度。因測(cè)量結(jié)果取決于兩個(gè)波段輻射功率之比，所 以，輻射能量的部分損失對(duì)測(cè)量結(jié)果沒(méi)有影響。可克服 傳輸介質(zhì)有灰塵、煙霧、水汽，視場(chǎng)局部遮擋和測(cè)量距 離變化造成的輻射能量衰減而引起的測(cè)量誤差，特別適 用于相對(duì)惡劣的測(cè)溫環(huán)境。
金屬熱加工過(guò)程中，金屬表面不可避免會(huì)快速氧化 形成氧化層，氧化層會(huì)隨溫度變化脫落或者皴裂（例如 軋鋼生產(chǎn)線），皴裂氧化皮和金屬本體形成間隙，使得 氧化層的溫度低于金屬本體溫度。比色測(cè)溫儀可以很好 的克服因此引起的測(cè)量誤差。使得生產(chǎn)工藝數(shù)據(jù)可靠且 離散性小，便于工藝分析。
比色測(cè)溫對(duì)于真空或保護(hù)氣體加熱系統(tǒng)也具有較強(qiáng) 的，可以克服玻璃窗口材料引起的測(cè)量誤差，讓測(cè) 量值更接近真值。
比色測(cè)溫儀具有目視瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，非常方便用戶 安裝及實(shí)時(shí)查看測(cè)溫儀是否對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)。對(duì)于密封環(huán)境的 測(cè)量系統(tǒng)，目視瞄準(zhǔn)還可以作為爐內(nèi)工況的觀察窗口。
比色測(cè)溫儀具有豐富的功能，實(shí)時(shí)高亮溫度測(cè) 量值顯示，用戶可選測(cè)量方式，測(cè)量模式，測(cè)溫速度， 輸出規(guī)格設(shè)置。*客戶各種現(xiàn)場(chǎng)使用需求。人機(jī) 交互簡(jiǎn)單，方便。
單色溫度計(jì)在使用過(guò)程中，會(huì)遇到以下幾種原因引 起的測(cè)量誤差： 、材料氧化表面狀態(tài)發(fā)生改變，或者 氧化物和原始材料開(kāi)裂而引起較大的測(cè)量誤差。 、材 料本身發(fā)射率較低而引起的測(cè)量誤差。 、測(cè)量環(huán)境惡 劣（粉塵，煙霧，水蒸氣等）而引起的測(cè)量誤差。 、 測(cè)量孔徑不能*測(cè)溫儀的視場(chǎng)需求而引起的測(cè)量 誤差。
量程范圍
DITH1 600-1400℃
DITH2 800-1800℃
DITH3 1000-3000℃ 探測(cè)器 Si0.4-1.1µm/Si 0.8-1.1µm
測(cè)量精度 ±0.75%(FS) 測(cè)量精度 0.2% ±
溫度分辨力1℃
響應(yīng)時(shí)間 5ms ≤
發(fā)射率調(diào)整 0.80 to 1.10 (0.01) tow-color 0.10 to 1.00(0.01) one-color
現(xiàn)場(chǎng)參數(shù)
280:1 2mm@560mmDITH1,DITH2,DITH3
防護(hù)等級(jí) IP65
工作溫度 0 to 65℃ 存儲(chǔ)溫度 -20-70℃ 相對(duì)濕度
抗沖擊 GB/T2423.1,GB/t2423.2 抗擾標(biāo)準(zhǔn) JB/T9233.11-1999
重量 600g